简介:摘要随着现代电子信息技术的发展,手机薄膜晶体管液晶显示器屏向大尺寸、轻薄化、高分辨率方向发展。TFT-LCD是由很多像素组成,结构复杂、制造工序繁多,如果其中有一些像素不能正常工作,就会造成局部的显示不良,如出现亮点、暗点、亮线、暗线等缺陷,这些缺陷在生产过程中不可避免,但易于观察和检测。点缺陷产生的主要原因是单体TFT薄膜晶体管的失效,线缺陷则由多个驱动电路与屏幕连接不良引起的。本文主要通过研究TFT-LCD的显示原理,亮点缺陷在LTPS低温多晶硅Array制程中的分析和改善修复,来提升生产的良率,对于提高TFT-LCD手机屏的质量具有重要意义。
简介:Usinganewlow-temperatureprocess(<600℃),thepoly-SiTFTwasfabricatedbymetal-inducedlateralcrystallization(MILC).Anultrathinaluminumlayerwasdepositedona-Sifilmandselectivelyformedbyphotolithography.Thefilmswerethenannealedat560℃toobtainlaterallycrystallizedpoly-Sifilm,whichisusedasthechannelareaofaTFT.Thepoly-SiTFTshowedanon/offcurrentratioofhigherthan1×106atadrainvoltageof5V.TheelectricalpropertiesaremuchbetterthanTFTfabricatedbyconventionalcrystallizationat600℃.
简介:本文根据xilinxFPGA的SOPC嵌入式系统设计的方法,提出了基于SOPC技术的TFT—LCD显示系统的解决方案,分析了TFT—LCD控制器的设计思路,分析了系统硬件的构建流程、组成结构以及各部分IP核的功能,给出硬件设计和软件编程测试的方法。最终结果表明系统稳定可靠,显示清晰,色彩丰富,达到了系统设计要求。
简介:摘要:Touch Mura在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生,并且严重影响产品性能。文章主要研究了液晶量、Sub PS设计、PS段差设计及工艺参数Total pitch对Touch Mura的影响。实验结果表明液品量的增加能够补偿敲击偏移,减轻 Touch Mura 不良;Sub PS的Z字形设计由于阻挡效应能够有效减轻 Touch Mura;Main PS和Sub PS的段差越大,Touch Mura margin越小;工艺参数Total Pitch 越接近设计值,Touch Mura 风险越小。所以在设计过程中优化液晶量和Main-Sub PS段差设计及 Sub PS设计能够有效减低Touch Mura 风险,此外,生产过程中对工艺参数 Total pitch的管控也至关重要。